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Chroma 3111迷你桌上型单站的自动化测试分类机适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测试的能力，系统支援各种不同类型的封装晶片， 支援的晶片尺寸从 5x5mm 到 45x45mm。为提升产能，3111具备远端功能可于任何地点透过网路连接方式进行控制，3111可用软体设定JEDEC料盘的分配以及进行工程测试，在60公分平方的空间里发挥最大的效用以节省时间和成本，简易操作的系统介面(Windows™)提供一各快速且容易的设定方式，可简化流程并提高效率。
主要特色
●600 mm (W) x 565 mm (D) x 800 mm (H)
●可放置两个闯贰顿贰颁料盘
●支援 5x5mm 到 45x45mm 晶片尺寸
●可由软体介面设定分类数
●测试头内建气室，可吸收及减缓下压触力冲击
●优化的 IC 下压接触平整度
●最佳化的 socket 使用寿命
●IC 堆迭防护
●连续性自动重测功能
●远端控制操作
●即时摄影监控系统
●手机警示通知
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Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大输出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试，对于产线测试时的接触检查议题，除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)，新增HVCC高压接触检查(High Voltage ContactCheck)，针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。
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