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3112 晶片测试分类机

晶片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。

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3112 晶片测试分类机


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产物详细


Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP自动化晶片测试分类机,可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之晶片测试与分类。此设备透 过PnP方式将晶片自晶片盘载入至测试站中,精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求,多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。

晶片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。

 

主要特色

●高信赖度之笔苍笔自动化测试分类机

●x4 多盘置入自动测试分类

●全方位 (X/Y/Z/θ) 可调式探针座模组

●测式座产物堆迭检测

●x12 输出分类盘可程式设定输出类别

●全程即时良率显示与控制

●全程探针接触状态显示 (选配)

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Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种包含10kVac/12kVdc/20kVdc,最大输出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试,对于产线测试时的接触检查议题,除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check),新增HVCC高压接触检查(High Voltage ContactCheck),针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查,提升测试可靠度与效率。

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