产物详细
Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP自动化晶片测试分类机,可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之晶片测试与分类。此设备透 过PnP方式将晶片自晶片盘载入至测试站中,精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求,多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。
晶片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。
主要特色
●高信赖度之笔苍笔自动化测试分类机
●x4 多盘置入自动测试分类
●全方位 (X/Y/Z/θ) 可调式探针座模组
●测式座产物堆迭检测
●x12 输出分类盘可程式设定输出类别
●全程即时良率显示与控制
●全程探针接触状态显示 (选配)
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