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3650-CX SoC 测试系统

50/100惭贬锄测试工作频率
256个 I/O 通道(I/O Channel)
16/32 MW vector 记忆体
16/32 MW pattern instruction 记忆体

关键词 :

3650-CX SoC 测试系统


所属分类 :


产物详细


主要特色

●50/100惭贬锄测试工作频率

●256个 I/O 通道(I/O Channel)

●16/32 MW vector 记忆体

●16/32 MW pattern instruction 记忆体

●Multi-site 测试可达 32 sites

●16个 DPS 通道

●8个 PMU 通道

●Per-Pin 时序频率测试单位

●最高可选购1024M bit x 4 CH scan depth

●可选购记忆体测试用础尝笔骋

●高达 16 high-voltage pins

●16 个高性能 DPS 通道

●每片 VI45 类比单板可支援8~32通道

●每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道

●Windows® XP操作环境

●C++ 程式语言与图形人机介面设计

●采用颁搁滨厂笔完整多样的系统软体工具

●与周边设备相容性高

●础濒濒-颈苍-翱苍别小型化气冷式机台设计,节省占地面积

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