产物详细
主要特色
●50/100惭贬锄测试工作频率
●512个 I/O 通道(I/O Channel)
●16M (32M Max.) Pattern 记忆体(Pattern Memory)
●Per-Pin 弹性资源架构
●32 DUTS 平行测试功能
●ADC/DAC 测试功能
●硬体规则模式产生器(Algorithmic Pattern Generator)
●BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项
●好学易用的 Windows XP 作业环境
●每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
●每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
●弹性化的 MS C/C++ 程式语言
●即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
●测试程式/测试pattern转换软体(J750, SC312)
●多样化测试分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
●最经济实惠的痴尝厂滨和消费性混合信号晶片产物的测试方案
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推荐产物
Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大输出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试，对于产线测试时的接触检查议题，除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)，新增HVCC高压接触检查(High Voltage ContactCheck)，针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。
Chroma 19036为业界首创结合脉冲测试，耐压、绝缘电阻与直流电阻量测于单机的绕线元件电气安规扫描分析仪，拥有5kVac/6kVdc高压输出、5kV绝缘电阻、6kV层间短路脉冲电压与四线式直流电阻量测。符合绕线元件测试需求且提供多通道扫描测试，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。
Chroma 7935晶圆检测机为切割后自动化晶粒检测机，使用先进的打光技术，可以清楚的辨识晶粒的外观瑕疵。结合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以适用于LED、雷射二极体及影像感测器等产业。
Chroma58158是一台完全遵照国家 AC LED 元 件标准量测规范所开发之LED灯具测试系统。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流电源供应器与量测单元，提供 AC LED一个模拟真实交流环境之测试条件；另外，致茂亦提供一弹性化光学测试平台，使用者不仅可利用Chroma58158提供之整合测试软体可测得 AC LED 各种交 流之光电特性 (详见规格表)，亦可整合其他直流电流量测单元可测得AC LED之直流光学特性。
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