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3380 VLSI 测试系统

50/100 MHz 测试频率
50/100 Mbps 数据速率
1024 I/O pins (最高可至1280 I/O pins)
平行测试可达1024 sites
32/64 M pattern 记忆体

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3380 VLSI 测试系统

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主要特色

●50/100 MHz 测试频率

●50/100 Mbps 数据速率

●1024 I/O pins (最高可至1280 I/O pins)

●平行测试可达1024 sites

●32/64 M pattern 记忆体

●多样弹性 VI 电源

●弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA,)

●Real parallel trim/match 功能

●时序频率测试单位 (TFMU)

●高速时序测试单位 (HSTMU)

●AD/DA 功能卡选配

●SCAN 测试功能选配 (最高 1G M/chain)

●ALPG 测试选配供记忆体IC用

●STDF 工具支援

●测试程式/pattern 转换器 (J750, D10,V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

●人性化 Window 7操作环境

●CRAFT C/C++ 程式语言

●程式语言同 3380P & 3360P

推荐产物

Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大输出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试，对于产线测试时的接触检查议题，除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)，新增HVCC高压接触检查(High Voltage ContactCheck)，针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。

耐压测试分析仪

Chroma 19036为业界首创结合脉冲测试，耐压、绝缘电阻与直流电阻量测于单机的绕线元件电气安规扫描分析仪，拥有5kVac/6kVdc高压输出、5kV绝缘电阻、6kV层间短路脉冲电压与四线式直流电阻量测。符合绕线元件测试需求且提供多通道扫描测试，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。

绕线元件电气安规扫描分析仪

Chroma 7935晶圆检测机为切割后自动化晶粒检测机，使用先进的打光技术，可以清楚的辨识晶粒的外观瑕疵。结合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以适用于LED、雷射二极体及影像感测器等产业。

Model 7935 晶圆检测系统

Chroma58158是一台完全遵照国家 AC LED 元件标准量测规范所开发之LED灯具测试系统。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流电源供应器与量测单元，提供 AC LED一个模拟真实交流环境之测试条件；另外，致茂亦提供一弹性化光学测试平台，使用者不仅可利用Chroma58158提供之整合测试软体可测得 AC LED 各种交流之光电特性 (详见规格表)，亦可整合其他直流电流量测单元可测得AC LED之直流光学特性。

Model 58158-IS LED 照明测试系统

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