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3360-P VLSI 测试系统

25/50 MHz 测试频率
25/50 Mbps 数据速率
256 logic I/O pins
8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体

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3360-P VLSI 测试系统

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主要特色

●25/50 MHz 测试频率

●25/50 Mbps 数据速率

●256 logic I/O pins

●8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体

●弹性化硬体结构 (互换式 I/O, VI, ADDA, and LCD)

●平行测试可达 32 devices

●Real parallel Trim/Match 功能

●时序频率测试单位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)

●测试程式/pattern 转换器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670 )

●AD/DA卡选配 (16 ~24 bits)

●SCAN 测试选配 (max 512M/chain)

●ALPG 测试选配供记忆体用

●STDF 工具支援

●人性化 Windows XP 操作环境

●CRAFT C/C++ 程式语言

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Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大输出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试，对于产线测试时的接触检查议题，除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)，新增HVCC高压接触检查(High Voltage ContactCheck)，针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。

耐压测试分析仪

Chroma 19036为业界首创结合脉冲测试，耐压、绝缘电阻与直流电阻量测于单机的绕线元件电气安规扫描分析仪，拥有5kVac/6kVdc高压输出、5kV绝缘电阻、6kV层间短路脉冲电压与四线式直流电阻量测。符合绕线元件测试需求且提供多通道扫描测试，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。

绕线元件电气安规扫描分析仪

Chroma 7935晶圆检测机为切割后自动化晶粒检测机，使用先进的打光技术，可以清楚的辨识晶粒的外观瑕疵。结合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以适用于LED、雷射二极体及影像感测器等产业。

Model 7935 晶圆检测系统

Chroma58158是一台完全遵照国家 AC LED 元件标准量测规范所开发之LED灯具测试系统。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流电源供应器与量测单元，提供 AC LED一个模拟真实交流环境之测试条件；另外，致茂亦提供一弹性化光学测试平台，使用者不仅可利用Chroma58158提供之整合测试软体可测得 AC LED 各种交流之光电特性 (详见规格表)，亦可整合其他直流电流量测单元可测得AC LED之直流光学特性。

Model 58158-IS LED 照明测试系统

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