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3280 SD Card 测试分类机

Chroma 3280整合了测试机台与自动分类机的功能，并采用创新的设计，满足采用KGD生产的SD卡类产物的测试需求，不论是在机台的成本或是体积上，都比传统的测试机台来的大幅降低，因此也就能够相对地大幅降低测试的成本。

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3280 SD Card 测试分类机

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Chroma 3280采用创新的技术整合SD卡测试机与自动分类机的功能，并利用Test-In-Tray的技术来达到大量平行测试的能力。透过支援SD资料传输协定(SD Protocol Aware)与提供特定DC参数测试的功能，3280为所有的SD卡类产物带来了一个创新的测试方法，而这高效率的测试方法也为客户带来大幅降低生产成本的好处。此外，小机台的设计更可节省机台于测试厂之占地面积。

对于低价的消费性产物而言,即使在生产成本上仅有些微的差距，制造商也会极为敏感。而这样的特性往往是此类消费性产物在成品测试中之一大挑战。对于SD卡类产物而言，为了能够降低生产的成本，SD卡类制造商了解在SD卡的制程中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。其主要的原因，乃是因为采用KGD生产的SD卡类产物，将可减少在成品测试中对于测试项目的要求，只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵进行检测，而不需要再对整个晶片进行完整的测试。

主要特色

●整合厂顿卡测试机与自动分类机功能

●平行测试120个micro SD卡

●罢别蝉迟-滨苍-罢谤补测

●UPH = 5400 (以70秒的测试时间为例)

●支援厂顿卡资料通讯协定

●支援顿颁参数量测功能

●Microsoft Windows XP OS

●提供Tray Map与分类结果资讯

●小机台体积 : 164cm x 79cm x 180cm

●选配设备

●3rd Party测试模组整合

●Mini SD, SD与MMC的测试介面

●厂顿卡资料写入模组

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Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大输出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试，对于产线测试时的接触检查议题，除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)，新增HVCC高压接触检查(High Voltage ContactCheck)，针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。

耐压测试分析仪

Chroma 19036为业界首创结合脉冲测试，耐压、绝缘电阻与直流电阻量测于单机的绕线元件电气安规扫描分析仪，拥有5kVac/6kVdc高压输出、5kV绝缘电阻、6kV层间短路脉冲电压与四线式直流电阻量测。符合绕线元件测试需求且提供多通道扫描测试，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。

绕线元件电气安规扫描分析仪

Chroma 7935晶圆检测机为切割后自动化晶粒检测机，使用先进的打光技术，可以清楚的辨识晶粒的外观瑕疵。结合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以适用于LED、雷射二极体及影像感测器等产业。

Model 7935 晶圆检测系统

Chroma58158是一台完全遵照国家 AC LED 元件标准量测规范所开发之LED灯具测试系统。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流电源供应器与量测单元，提供 AC LED一个模拟真实交流环境之测试条件；另外，致茂亦提供一弹性化光学测试平台，使用者不仅可利用Chroma58158提供之整合测试软体可测得 AC LED 各种交流之光电特性 (详见规格表)，亦可整合其他直流电流量测单元可测得AC LED之直流光学特性。

Model 58158-IS LED 照明测试系统

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